1. An artificial intelligence approach to test generation

پدیدآورنده :

کتابخانه: كتابخانه و مركز اسناد سازمان پژوهشهای علمی و صنعتی ایران (تهران)

موضوع : $AIntegrated circuits - Very large scale integration - Testing - Data processing,$AExpert systems )Computer science(,$AArtificial intelligence

رده :
TK
7874
.
S533
1987